-65度三箱沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗 3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
-65度三箱沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱
機型 :JS-CJ100/10
內箱容積:50/80/100/150L,可定制
測試環境條件: 環境溫度為+25℃、試驗箱內無試樣條件下
測試方法: GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備
高溫室:
預溫度范圍 :RT~+200℃
升溫時間 :RT+10℃→+200℃ ≤40min
低溫室:
預冷溫度范圍: RT~-100℃
降溫時間: RT → -100℃≤60min
試驗室(試樣區)
試驗方式 :氣動風門切換
3 溫區沖擊試驗條件(高溫-常溫-低溫)
2 溫區沖擊試驗條件(高溫-低溫)
溫度沖擊范圍: -65℃~ +150℃
溫度波動度: ±0.5℃
溫度偏差: ±2.0℃
溫度恢復時間: ≤5min
恢復條件試樣:塑料封裝集成電路(均布)
傳感器位置:試樣的上風側
高溫曝露: RT~+150℃:≥30分鐘
環境溫度曝露:常溫
低溫曝露: RT~-65℃:≥30分鐘
試樣重量:4.5kg(如需要放置重的試樣,請提前告知)
制冷方式:水冷
-65度三箱沖擊試驗箱,三箱法高低溫沖擊箱控制器:
種類: 觸摸智能式溫度控制器
顯示器: 彩色觸摸式液晶顯示
運行方式: 程序方式
設定方式:全中文液晶顯示(中英文可切換)LCD觸摸式面板(耐100.000次畫線試驗)
程序容量: 可使用的程序量:最大 120 組,1 個程序可由 1~99 段次組合而成;
可使用的記憶容量: 1200 段,可重復執行命令:每一個命令可達 999 次,程序斜率設定可由時間軸來設定,程序間可設定聯結使用,程序之制作采用對談式,操作簡單具有編輯,清除,插入等功能,4 組時間信號輸出控制(可控制待測物 ON/OFF 動作)具有 9 組 PID 參數設定,程序執行中具有跳段,保持功能,可顯示曲線,數據采集;日期、時間調整功能;按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能,可連接計算機。
顯示分辨率: 溫度分辨:0.1℃;時間分辨:0.1min
溫度輸入 :PT100
控制方式: 抗積分飽和PID,BTC平衡調溫控制方式
曲線記錄功能: 程序執行時可實時顯示圖形曲線
附屬功能 :具有斷電程序記憶,復電后自動啟動并接續執行程序功能,具有日期,時間調整,預約啟動,關機功及畫面鎖定(LOCK)功能。
三箱法高低溫沖擊箱滿足試驗標準
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件